el組串測(ce)試電源為我司(si)針對(dui)光(guang)伏(fu)電站(zhan)組串反(fan)向上(shang)電特(te)性所研發，通(tong)過(guo)將交流電轉(zhuan)換為直(zhi)流電輸入(ru)電池(chi)板激發電致(zhi)發光(guang)，從(cong)而(er)進(jin)行EL的(de)內(nei)部缺(que)陷測(ce)試。

EL測(ce)試組(zu)串電源為我司(si)針對(dui)光(guang)伏(fu)電站(zhan)組串反(fan)向上(shang)電特(te)性所研發，通(tong)過(guo)將交流電轉(zhuan)換為直(zhi)流電輸入(ru)電池(chi)板激發電致(zhi)發光(guang)，從(cong)而(er)進(jin)行EL的(de)內(nei)部缺(que)陷測(ce)試。

el組串電源為我司(si)針對(dui)光(guang)伏(fu)電站(zhan)組串反(fan)向上(shang)電特(te)性所研發，通(tong)過(guo)將交流電轉(zhuan)換為直(zhi)流電輸入(ru)電池(chi)板激發電致(zhi)發光(guang)，從(cong)而(er)進(jin)行EL的(de)內(nei)部缺(que)陷測(ce)試。

el組串電源為我司(si)針對(dui)光(guang)伏(fu)電站(zhan)組串反(fan)向上(shang)電特(te)性所研發，通(tong)過(guo)將交流電轉(zhuan)換為直(zhi)流電輸入(ru)電池(chi)板激發電致(zhi)發光(guang)，從(cong)而(er)進(jin)行EL的(de)內(nei)部缺(que)陷測(ce)試。

EL測(ce)試組(zu)串電源為我司(si)針對(dui)光(guang)伏(fu)電站(zhan)組串反(fan)向上(shang)電特(te)性所研發，通(tong)過(guo)將交流電轉(zhuan)換為直(zhi)流電輸入(ru)電池(chi)板激發電致(zhi)發光(guang)，從(cong)而(er)進(jin)行EL的(de)內(nei)部缺(que)陷測(ce)試。