光伏(fu)電(dian)站灰(hui)塵監測(ce)系(xi)統(tong)

簡(jian)要描述(shu)：光(guang)伏電(dian)站灰(hui)塵監測(ce)系(xi)統(tong)實時(shi)數據監(jian)測(ce)：可(ke)采集、分(fen)析汙染比(bi)、潔(jie)凈比、灰(hui)塵厚(hou)度、背板(ban)溫(wen)度四(si)類數據，汙染比(bi)與(yu)潔凈比采用(yong)雙探頭(tou)

　　均(jun)值數據計(ji)算模式(shi)，保(bao)證(zheng)數據精(jing)準(zhun)可(ke)靠(kao)。

產品(pin)型(xing)號： WX-HS1

所(suo)屬分(fen)類：光伏檢測(ce)設(she)備

更(geng)新時間：2024-07-23

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　　壹、光(guang)伏(fu)電(dian)站灰(hui)塵監測(ce)系(xi)統(tong)產品(pin)概(gai)述(shu)

　　太(tai)陽能組件(jian)玻(bo)璃上(shang)的(de)汙染物(wu)是快(kuai)速(su)影(ying)響(xiang)光(guang)伏(fu)電(dian)站的(de)主要問題之(zhi)壹(yi)，會降低(di)發(fa)電(dian)效率和性價(jia)比(bi)。灰(hui)塵汙染會(hui)大(da)幅(fu)降低(di)光(guang)伏(fu)電(dian)站發(fa)電(dian)量(liang),估計(ji)每(mei)年至少在(zai)5%以上。采用(yong)藍(lan)光(guang)汙染物(wu)光閉(bi)環(huan)測(ce)量(liang)(OMBP)技術,可以很(hen)容(rong)易安裝(zhuang)到(dao)新建(jian)或現(xian)有(you)的(de)光伏陣列(lie)中，並(bing)集成到電(dian)站管(guan)理系(xi)統(tong)中。該裝(zhuang)置(zhi)安裝(zhuang)在(zai)光伏板的框(kuang)架(jia)上(shang)。通(tong)過連(lian)續測(ce)量(liang)玻璃上(shang)汙染物(wu)帶來的(de)傳(chuan)輸損(sun)耗，從而(er)計(ji)算出(chu)陽光(guang)到(dao)達太(tai)陽能組件(jian)的(de)減少量。

　　通(tong)過測(ce)量(liang)汙染物(wu)的比(bi)例(SR)，實時轉化(hua)為(wei)發電(dian)量(liang)的損(sun)失(shi)。這使運(yun)維人(ren)員知(zhi)道汙染物(wu)何時(shi)達到臨界點，並(bing)且已經(jing)有(you)必(bi)要開始清洗程(cheng)序(xu)。該產品(pin)不需(xu)要維護(hu)，只(zhi)需在(zai)清洗周圍組件(jian)時(shi)以同(tong)樣(yang)的方(fang)式(shi)進行(xing)清洗。

　　因(yin)為(wei)大型(xing)光伏(fu)電(dian)站在(zai)整(zheng)個(ge)園(yuan)區中有(you)不同(tong)的汙染率，所(suo)以IEC  61724-1標準(zhun)中要求多點測(ce)量(liang)。與傳(chuan)統(tong)系統(tong)相比(bi)，在(zai)采購成本、安裝(zhuang)和(he)維(wei)護(hu)成本要低(di)得(de)多，這使得(de)它更(geng)加經(jing)濟(ji)，因(yin)此可(ke)以在(zai)需要的時間和(he)地點(dian)計(ji)劃(hua)進行(xing)清理。

　　二(er)、光(guang)伏(fu)電(dian)站灰(hui)塵監測(ce)系(xi)統(tong)灰(hui)塵對光(guang)伏發(fa)電(dian)的(de)影(ying)響(xiang)

　　大(da)家(jia)都(dou)知(zhi)道灰(hui)塵覆蓋(gai)在(zai)組件(jian)上(shang)，形成遮擋現象(xiang)，直(zhi)接導(dao)致組(zu)件(jian)功(gong)率輸出(chu)下(xia)降，而(er)且灰(hui)塵長期粘附對組(zu)件(jian)具(ju)有(you)壹(yi)定的腐蝕(shi)作(zuo)用(yong)。同(tong)時，灰(hui)塵壹直(zhi)存在(zai)會造(zao)成組件(jian)的(de)熱斑(ban)，進壹(yi)步(bu)降低(di)組(zu)件(jian)的(de)輸(shu)出(chu)功(gong)率，甚(shen)至影(ying)響(xiang)組(zu)件(jian)的(de)壽(shou)命(ming)。並(bing)且熱斑(ban)效應對於組件(jian)來說(shuo)是不可(ke)逆的(de)，壹旦(dan)出(chu)現沒有(you)彌補(bu)的手(shou)段，只(zhi)能選擇更(geng)換組(zu)件(jian)。否(fou)則(ze)會影(ying)響(xiang)發(fa)電(dian)量(liang)，還有(you)可(ke)能給(gei)電(dian)站帶來安全(quan)隱患。

　　國(guo)內(nei)外多個(ge)調查(zha)機構針對灰(hui)塵影(ying)響(xiang)光(guang)伏(fu)系(xi)統(tong)功(gong)率衰(shuai)減進行(xing)研(yan)究(jiu)，得(de)出(chu)數據如(ru)圖1所(suo)示(shi)。

　　從上圖可(ke)以看(kan)出(chu)我國(guo)光(guang)伏系(xi)統(tong)輸出(chu)功(gong)率受灰(hui)塵影(ying)響(xiang)平(ping)均(jun)約20%左(zuo)右(you)。

　　灰(hui)塵對光(guang)伏發(fa)電(dian)的(de)影(ying)響(xiang)主要歸結為(wei)以下(xia)三個(ge)方(fang)面：

　　1、溫(wen)度影(ying)響(xiang)

　　目(mu)前(qian)光(guang)伏(fu)電(dian)站較(jiao)多使用(yong)矽基(ji)太(tai)陽電(dian)池(chi)組件(jian),該(gai)組(zu)件(jian)對(dui)溫(wen)度十(shi)分(fen)敏感(gan),隨灰(hui)塵在(zai)組件(jian)表(biao)面(mian)的積(ji)累,增(zeng)大(da)了光(guang)伏組件(jian)的(de)傳(chuan)熱熱阻(zu),成為(wei)光伏(fu)組(zu)件(jian)上(shang)的(de)隔熱層(ceng),影(ying)響(xiang)其散(san)熱。

　　研(yan)究(jiu)表(biao)明(ming)太(tai)陽能電(dian)池(chi)溫度上(shang)升1℃,輸出(chu)功(gong)率約下(xia)降0.5%。且電(dian)池(chi)組件(jian)在(zai)長久陽光照射下(xia),被遮(zhe)蓋(gai)的部(bu)分(fen)升溫速(su)度遠(yuan)大(da)於未被(bei)遮(zhe)蓋(gai)部(bu)分(fen),致使(shi)溫度過(guo)高(gao)出(chu)現燒(shao)壞的暗斑(ban)。

　　正(zheng)常照度情(qing)況(kuang)下(xia),被遮(zhe)蓋(gai)部(bu)分(fen)電(dian)池(chi)板會由(you)發(fa)電(dian)單(dan)元變為(wei)耗電(dian)單(dan)元,被遮蔽的(de)光(guang)伏電(dian)池(chi)會變成不發(fa)電(dian)的(de)負(fu)載電(dian)阻(zu),消(xiao)耗相連(lian)電(dian)池(chi)產生(sheng)的(de)電(dian)力(li),即發(fa)熱,這就是(shi)熱斑(ban)效應。此過(guo)程(cheng)會(hui)加劇電(dian)池(chi)板老(lao)化(hua),減少出(chu)力(li),嚴重(zhong)時(shi)會(hui)引起(qi)組(zu)件(jian)燒(shao)毀(hui)。

　　2、遮(zhe)擋(dang)影(ying)響(xiang)

　　灰(hui)塵附著在(zai)電(dian)池(chi)板表面,會(hui)對(dui)光(guang)線(xian)產生(sheng)遮(zhe)擋(dang),吸(xi)收和反射(she)等作用(yong),其中最(zui)主要是對光的(de)遮(zhe)擋(dang)作(zuo)用(yong)。灰(hui)塵顆粒(li)對光(guang)的(de)反(fan)射(she)吸收和遮擋(dang)作(zuo)用(yong),影(ying)響(xiang)光(guang)伏(fu)電(dian)池(chi)板對光的(de)吸(xi)收,從而(er)影(ying)響(xiang)光(guang)伏(fu)發(fa)電(dian)效率。

　　有(you)研(yan)究(jiu)指出(chu)灰(hui)塵沈(chen)積(ji)在(zai)電(dian)池(chi)板組件(jian)受光面(mian),首先(xian)會(hui)使(shi)電(dian)池(chi)板表面透光率下(xia)降;其次會(hui)使部(bu)分(fen)光線(xian)的入(ru)射(she)角度發(fa)生(sheng)改(gai)變,造(zao)成光線(xian)在(zai)玻璃蓋(gai)板中不均(jun)勻(yun)傳(chuan)播(bo)。

　　有(you)研(yan)究(jiu)顯(xian)示(shi)在(zai)相同(tong)條件(jian)下(xia),清潔的(de)電(dian)池(chi)板組件(jian)與(yu)積(ji)灰(hui)組(zu)件(jian)相(xiang)比(bi),其輸出(chu)功(gong)率要高出(chu)至少5%,且積(ji)灰(hui)量(liang)越(yue)高(gao),組(zu)件(jian)輸(shu)出(chu)性能(neng)下(xia)降越大(da)。

　　3、腐蝕(shi)影(ying)響(xiang)

　　光(guang)伏(fu)面(mian)板(ban)表面大多為(wei)玻璃材(cai)質(zhi),玻(bo)璃的(de)主要成分(fen)是二(er)氧(yang)化(hua)矽和石(shi)灰(hui)石(shi)等,當濕(shi)潤的(de)酸性或堿(jian)性(xing)灰(hui)塵附在(zai)玻璃蓋(gai)板表(biao)面時(shi),玻(bo)璃蓋(gai)板成分(fen)物(wu)質(zhi)都(dou)能與酸或堿(jian)反(fan)應。

　　隨著玻(bo)璃在(zai)酸性或堿(jian)性(xing)環(huan)境(jing)裏的時(shi)間增(zeng)長(chang),玻璃表(biao)面(mian)就會(hui)慢慢被侵蝕(shi),從(cong)而(er)在(zai)表面形成坑(keng)坑(keng)窪窪的現象(xiang),導(dao)致光(guang)線(xian)在(zai)蓋(gai)板表(biao)面形成漫反射,在(zai)玻璃中的傳(chuan)播(bo)均(jun)勻(yun)性受到破壞,光(guang)伏組(zu)件(jian)蓋(gai)板越(yue)粗糙,折(zhe)射(she)光的(de)能(neng)量(liang)越(yue)小,實際(ji)到達(da)光(guang)伏(fu)電(dian)池(chi)表面的能(neng)量(liang)減小,導(dao)致光(guang)伏電(dian)池(chi)發電(dian)量(liang)減小。並(bing)且粗糙的、帶有(you)粘(zhan)合(he)性殘留(liu)物(wu)的黏滯表面比(bi)更(geng)光滑(hua)的表(biao)面更(geng)容易(yi)積(ji)累灰(hui)塵。而(er)且灰(hui)塵本身(shen)也(ye)會吸(xi)附灰(hui)塵,壹旦(dan)有(you)了(le)初始灰(hui)塵存在(zai),就會導(dao)致更(geng)多的灰(hui)塵累積(ji),加速(su)了(le)光(guang)伏電(dian)池(chi)發電(dian)量(liang)的衰(shuai)減。

　　三、產品(pin)特(te)點

　　1、實(shi)時(shi)數據監(jian)測(ce)：可(ke)采集、分(fen)析汙染比(bi)、潔(jie)凈比、灰(hui)塵厚(hou)度、背板(ban)溫(wen)度四(si)類數據，汙染比(bi)與(yu)潔凈比采用(yong)雙探頭(tou)

　　均(jun)值數據計(ji)算模式(shi)，保(bao)證(zheng)數據精(jing)準(zhun)可(ke)靠(kao)。

　　2、科技型(xing)采集儀(yi)：灰(hui)塵環(huan)境(jing)數據采集儀(yi)采用(yong)新壹代(dai)32位MCU處(chu)理器(qi)，板載集成高精度4G、Bluetooth數字芯片(pian),可使(shi)采集數據通(tong)過有(you)線(xian)或者(zhe)無線(xian)方(fang)式(shi)發(fa)送到數據監(jian)測(ce)平(ping)臺(tai)。

　　3、創新藍光(guang)技術(shu)：采用(yong)全(quan)新壹代(dai)藍光(guang)汙染物(wu)光閉(bi)環(huan)測(ce)量(liang)(OMBP)技術，可有(you)效保(bao)證(zheng)高(gao)精(jing)度灰(hui)塵數據探(tan)測(ce)，並(bing)有(you)效防止(zhi)太(tai)陽光照射(she)對光路(lu)閉(bi)環(huan)采集數據的(de)幹(gan)擾。可以在(zai)全(quan)天(tian)候(hou)狀態(tai)下(xia)長期使用(yong)，優(you)於《IEC  61724-1標準(zhun)》中要求的每(mei)天(tian)11-13點(dian)只(zhi)能三小(xiao)時(shi)有(you)效監測(ce)的(de)規定(ding)。

　　4、智(zhi)慧電(dian)站清潔：內(nei)置(zhi)全(quan)新壹代(dai)物(wu)聯網管(guan)控(kong)模塊(kuai)，具(ju)有(you)四(si)種(zhong)控(kong)制模(mo)式(shi)：常(chang)開常閉(bi)、循(xun)環(huan)控(kong)制、時(shi)間控(kong)制、人(ren)工控(kong)制。根(gen)據設定汙染閥(fa)值和(he)控(kong)制模(mo)式(shi)，可(ke)以聯動清潔機器(qi)人(ren)或物(wu)聯管(guan)控(kong)設備(bei)自(zi)動清潔電(dian)池(chi)板灰(hui)塵，保(bao)證(zheng)光(guang)伏(fu)電(dian)站高(gao)效率發電(dian)需(xu)要。

　　5、準(zhun)確(que)度自(zi)校準(zhun)：設(she)備(bei)上(shang)集成有(you)壹(yi)鍵準(zhun)確(que)度自(zi)校準(zhun)按(an)鍵(jian)，根(gen)據不同(tong)的應用(yong)環(huan)境(jing)和不同(tong)的使(shi)用(yong)時(shi)間，設(she)備(bei)的采集準(zhun)確(que)度會(hui)有(you)所(suo)下(xia)降。通(tong)過自(zi)校準(zhun)按(an)鍵(jian)可(ke)以自(zi)動對(dui)藍光(guang)監(jian)測(ce)電(dian)路(lu)進行(xing)重新校準(zhun)，保(bao)證(zheng)數據觀(guan)測(ce)精(jing)準(zhun)可(ke)靠(kao)。

　　6、綠色(se)電(dian)源(yuan)管(guan)理：本(ben)數據采集儀(yi)可以采用(yong)AC220V和(he)DC12V兩(liang)種供(gong)電(dian)模(mo)式(shi)。並(bing)在(zai)內部(bu)集成了新壹代(dai)綠色(se)電(dian)源(yuan)管(guan)理模(mo)塊(kuai)實(shi)現交(jiao)流(liu)與直(zhi)流(liu)供(gong)電(dian)智(zhi)能(neng)切(qie)換(huan)。

　　四(si)、技(ji)術(shu)指標